Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits (Wiley Series in Solid State Devices and Circuits)

Howes, M. J.

ISBN 10: 0471280283 ISBN 13: 9780471280286
Editorial: Wiley–Blackwell, 1981
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa dura

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