Recent Interferometry Applications in Topography and Astronomy

Idioma: inglés

Editorial: Intechopen Mrz 2012, 2012

9535104047 / 9789535104049

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides a current overview of the theoretical and experimental aspects of some interferometry techniques applied to Topography and Astronomy. The first two chapters comprise interferometry techniques used for precise measurement of surface topography in engineering applications; while chapters three through eight are dedicated to interferometry applications related to Earth's topography. The last chapter is an application of interferometry in Astronomy, directed specifically to detection of planets outside our solar system. Each chapter offers an opportunity to expand the knowledge about interferometry techniques and encourage researchers in development of new interferometry applications. 232 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9789535104049

Título
Recent Interferometry Applications in Topography and Astronomy
Autor
Ivan Padron
Editorial
Intechopen Mrz 2012
Año de publicación
2012
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
9535104047
ISBN 13
9789535104049
Peso del artículo
719 gramos
Dimensiones
266x185x21 mm

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