Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices

Claeys, C. L.; Simoen, E.

ISBN 10: 3540433937 ISBN 13: 9783540433934
Editorial: Springer, 2002
Usado Encuadernación de tapa dura

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Sinopsis:

This wide-ranging book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductors, outlining the shortcomings of present experimental and modelling techniques and giving an outlook on future developments. It also provides information on the application of sensors in nuclear power plants.

De la contraportada: In the modern semiconductor industry, there is a growing need to understand and combat potential radiation damage problems. Space applications are an obvious case, but, beyond that, today's device and circuit fabrication rely on increasing numbers of processing steps that involve an aggressive environment where inadvertant radiation damage can occur. This book is both aimed at post-graduate researchers seeking an overview of the field, and will also be immensely useful for nuclear and space engineers and even process engineers. A background knowledge of semiconductor and device physics is assumed, but the basic concepts are all briefly summarized. Finally the book outlines the shortcomings of present experimental and modeling techniques and gives an outlook on future developments.

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Detalles bibliográficos

Título: Radiation Effects in Advanced Semiconductor ...
Editorial: Springer
Año de publicación: 2002
Encuadernación: Encuadernación de tapa dura
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C. Claeys|E. Simoen
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2002
ISBN 10: 3540433937 ISBN 13: 9783540433934
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductorsIt will be a useful reference work for scientists involved in semiconductor processing.- This book is important for space applications of semiconductors and solar cells.- I. Nº de ref. del artículo: 4890427

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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the modern semiconductor industry, there is a growing need to understand and combat potential radiation damage problems. Space applications are an obvious case, but, beyond that, today's device and circuit fabrication rely on increasing numbers of processing steps that involve an aggressive environment where inadvertant radiation damage can occur. This book is both aimed at post-graduate researchers seeking an overview of the field, and will also be immensely useful for nuclear and space engineers and even process engineers. A background knowledge of semiconductor and device physics is assumed, but the basic concepts are all briefly summarized. Finally the book outlines the shortcomings of present experimental and modeling techniques and gives an outlook on future developments. Nº de ref. del artículo: 9783540433934

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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Radiation defects in semiconductors have become an important factor as semiconductor device technologies include implantation. The knowledge presented here is also important for space applications. The book will appeal to researchers, engineers and advanced students.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 436 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9783540433934

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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In the modern semiconductor industry, there is a growing need to understand and combat potential radiation damage problems. Space applications are an obvious case, but, beyond that, today's device and circuit fabrication rely on increasing numbers of processing steps that involve an aggressive environment where inadvertant radiation damage can occur. This book is both aimed at post-graduate researchers seeking an overview of the field, and will also be immensely useful for nuclear and space engineers and even process engineers. A background knowledge of semiconductor and device physics is assumed, but the basic concepts are all briefly summarized. Finally the book outlines the shortcomings of present experimental and modeling techniques and gives an outlook on future developments. 436 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9783540433934

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ISBN 10: 3540433937 ISBN 13: 9783540433934
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