Progress in Transmission Electron Microscopy 1 : Concepts and Techniques. Este artículo no está disponible.
Idioma: inglés
Editorial: Springer, 2010
- Tapa blanda
- Nuevo
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N° de ref. del artículo 11862921-n
- Título
- Progress in Transmission Electron Microscopy 1 : Concepts and Techniques
- Autor
- Zhang, Xiao-Feng; Zhang, Ze (EDT)
- Editorial
- Springer
- Año de publicación
- 2010
- Estado
- New
- Encuadernación
- Encuadernación de tapa blanda
- Idioma
- inglés
- ISBN 10
- 3642087175
- ISBN 13
- 9783642087172
A wide-ranging description of recent progress and new approaches for researchers and graduate students in microscopy and materials science.
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De la contraportada
Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume I concentrates on the newly developed concepts and methods which are making TEM a powerful and indispensible tool in materials science.
“Acerca de” puede pertenecer a otra edición de este título.