Progress in Pattern Recognition, Image Analysis, Computer Vision, and Applications : 20th Iberoamerican Congress, Ciarp 2015, Montevideo, Uruguay, November 9-12, 2015, Proceedings

Pardo, Alvaro (EDT); Kittler, Josef (EDT)

ISBN 10: 3319257501 ISBN 13: 9783319257501
Editorial: Springer, 2015
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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