Progress in Pattern Recognition, Image Analysis and Applications : 12th Iberoamerican Congress on Pattern Recognition, Ciarp 2007,valpariso, Chile, November 13-16, 2007, Proceedings

Rueda, Luis (EDT); Mery, Domingo (EDT); Kittler, Josef (EDT)

ISBN 10: 354076724X ISBN 13: 9783540767244
Editorial: Springer, 2007
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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