Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy

Gutierrez, Jose A.; Armstrong, Brian S. R.

ISBN 10: 1846289122 ISBN 13: 9781846289125
Editorial: Springer, 2007
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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