Practical Scanning Electron Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Okt 2011, 2011

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In the spring of 1963, a well-known research institute made a market survey to assess how many scanning electron microscopes might be sold in the United States. They predicted that three to five might be sold in the first year a commercial SEM was available, and that ten instruments would saturate the marketplace. In 1964, the Cambridge Instruments Stereoscan was introduced into the United States and, in the following decade, over 1200 scanning electron microscopes were sold in the U. S. alone, representing an investment conservatively estimated at $50,000- $100,000 each. Why were the market surveyers wrongil Perhaps because they asked the wrong persons, such as electron microscopists who were using the highly developed transmission electron microscopes of the day, with resolutions from 5-10 A. These scientists could see little application for a microscope that was useful for looking at surfaces with a resolution of only (then) about 200 A. Since that time, many scientists have learned to appreciate that information content in an image may be of more importance than resolution per se. The SEM, with its large depth of field and easily that often require little or no sample prepara interpreted images of samples tion for viewing, is capable of providing significant information about rough samples at magnifications ranging from 50 X to 100,000 X. This range overlaps considerably with the light microscope at the low end, and with the electron microscope at the high end. 604 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781461344247

Título
Practical Scanning Electron Microscopy
Autor
Joseph Goldstein
Editorial
Springer US Okt 2011
Año de publicación
2011
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1461344247
ISBN 13
9781461344247
Peso del artículo
902 gramos
Dimensiones
235x155x33 mm

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