Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 2011

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Título
Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis
Autor
Goldstein, Joseph (Editor)
Editorial
Springer
Año de publicación
2011
Estado
Brand New
Encuadernación
Paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
1461344247
ISBN 13
9781461344247
Peso del artículo
0,84 kilogramos

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