A Practical Guide to Transmission Electron Microscopy, Volume II

Idioma: inglés

Editorial: Momentum Press, US, 2015

1606509179 / 9781606509173

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Transmission Electron Microscope (TEM) is a very powerful tool for characterizing various types of materials. Using a light microscope, the imaging resolution is at several hundred nanometers, and for a Scanning Electron Microscope (SEM) at several nanometers. The imaging resolution of the TEM, however, can routinely reach several angstroms on a modem instrument. In addition, the TEM can also provide material structural information, since the electrons penetrate through the thin specimens, and chemical compositional information due to the strong electron-specimen atom interactions. This book provides a concise practical guide to the TEM user, starting from the beginner level, including upper-division undergraduates, graduates, researchers, and engineers, on how to learn TEM efficiently in a short period of time. Volume I covers the instrumentation, sample preparation, fundamental diffraction, imaging, analytical microscopy, and some newly developed microscopy techniques. This book may serve as a textbook for a TEM course or workshop, or a reference book for the TEM user to improve their TEM skills.

N° de ref. del artículo LU-9781606509173

Título
A Practical Guide to Transmission Electron Microscopy, Volume II
Autor
Zhiping Luo
Editorial
Momentum Press, US
Año de publicación
2015
Estado
New
Encuadernación
Paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
1606509179
ISBN 13
9781606509173
Peso del artículo
249 gramos
Dimensiones
15.24 x 0.97 x 22.86 cm

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