Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer Feb 2003, 2003

140207235X / 9781402072352

Serie: Libro 11 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented. 192 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781402072352

Título
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Autor
Nicola Nicolici
Editorial
Springer Feb 2003
Año de publicación
2003
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
140207235X
ISBN 13
9781402072352
Peso del artículo
407 gramos
Dimensiones
241x160x16 mm
Serie
Libro 11 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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