Point and Extended Defects in Semiconductors

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Springer Apr 2013, 2013

146845711X / 9781468457117

  • Tapa blanda
  • Nuevo
Ver todos los detalles

Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde el 23 de enero de 2017

Tapa blanda

Condición: Nuevo

EUR 53,49

Envío por EUR 60,00 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The systematic study of defects in semiconductors began in the early fifties. FrQm that time on many questions about the defect structure and properties have been an swered, but many others are still a matter of investigation and discussion. Moreover, during these years new problems arose in connection with the identification and char acterization of defects, their role in determining transport and optical properties of semiconductor materials and devices, as well as from the technology of the ever in creasing scale of integration. This book presents to the reader a view into both basic concepts of defect physics and recent developments of high resolution experimental techniques. The book does not aim at an exhaustive presentation of modern defect physics; rather it gathers a number of topics which represent the present-time research in this field. The volume collects the contributions to the Advanced Research Workshop 'Point, Extended and Surface Defects in Semiconductors' held at the Ettore Majo rana Centre at Erice (Italy) from 2 to 7 November 1988, in the framework of the International School of Materials Science and Technology. The workshop has brought together scientists from thirteen countries. Most participants are currently working on defect problems in either silicon submicron technology or in quantum wells and superlattices, where point defects, dislocations, interfaces and surfaces are closely packed together.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 300 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781468457117

Título
Point and Extended Defects in Semiconductors
Autor
Giorgio Benedek
Editorial
Springer, Springer Apr 2013
Año de publicación
2013
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
146845711X
ISBN 13
9781468457117
Peso del artículo
569 gramos
Dimensiones
254x178x17 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde el 23 de enero de 2017

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 60 a 60 días hábilesDe 60 a 60 días hábiles
Primer artículoEUR 60,00EUR 75,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Cheque
  • PayPal

Descripción de la tienda

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Especialidad

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Información empresarial del vendedor

buchversandmimpf2000

Alemania