Pattern Recognition and Machine Learning

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Dez 2012, 2012

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book contains the Proceedings of the US-Japan Seminar on Learning Process in Control Systems. The seminar, held in Nagoya, Japan, from August 18 to 20, 1970, was sponsored by the US-Japan Cooperative Science Program, jointly supported by the National Science Foundation and the Japan Society for the Promotion of Science. The full texts of all the presented papers except two t are included. The papers cover a great variety of topics related to learning processes and systems, ranging from pattern recognition to systems identification, from learning control to biological modelling. In order to reflect the actual content of the book, the present title was selected. All the twenty-eight papers are roughly divided into two parts--Pattern Recognition and System Identification and Learning Process and Learning Control. It is sometimes quite obvious that some papers can be classified into either part. The choice in these cases was strictly the editor's in order to keep a certain balance between the two parts. During the past decade there has been a considerable growth of interest in problems of pattern recognition and machine learn ing. In designing an optimal pattern recognition or control system, if all the a priori information about the process under study is known and can be described deterministically, the optimal system is usually designed by deterministic optimization techniques. 356 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781461575689

Título
Pattern Recognition and Machine Learning
Autor
King-Sun Fu
Editorial
Springer US Dez 2012
Año de publicación
2012
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1461575680
ISBN 13
9781461575689
Peso del artículo
670 gramos
Dimensiones
254x178x20 mm

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