T�tulo: Particle Characterization in Technology: Volume II: Morphological Analysis
Editor: CRC Press
Fecha de publicaci�n: 2017
Idioma: Ingl�s
ISBN 10: 1315896265
ISBN 13: 9781315896267
Encuadernaci�n: Encuadernaci�n de tapa dura
Estado: New

Acerca de

Sinopsis

The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.

Acerca del autor

J.K. Beddow

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