Optimal Reliability Design: Fundamentals and Applications

Kuo, Way; Prasad, V. Rajendra; Tillman, Frank A.; Hwang, Ching-Lai

ISBN 10: 0521781272 ISBN 13: 9780521781275
Editorial: Cambridge University Press, 2001
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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