Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance

Kipp van Schooten

ISBN 10: 331903328X ISBN 13: 9783319033280
Editorial: Springer International Publishing Aug 2015, 2015
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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