Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses

Idioma: inglés

Editorial: Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften AG Co. KG Jul 2015, 2015

3838104048 / 9783838104041

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -For optimisation of devices and verification of device simulation models the knowledge of heat dissipation and of free carrier concentration in the device is essential. Non-destructive optical methods based on monitoring of the refractive index, absorption or light emission have previously been developed for investigation of transient temperature or free carrier changes. However, these methods suffer either from small spatial or time resolution. Therefore two testing techniques based on transient interferometric mapping have been developed within this thesis: a two-dimensional multiple-time-instant single-shot technique and a two-beam technique with sub-nanosecond time resolution. 160 pp. Deutsch.

N° de ref. del artículo 9783838104041

Título
Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses
Autor
Viktor Dubec
Editorial
Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften AG Co. KG Jul 2015
Año de publicación
2015
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
3838104048
ISBN 13
9783838104041
Peso del artículo
256 gramos
Dimensiones
220x150x11 mm

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