Novel Voltage Phasor Based Algorithms for Line Outage Identification
Alam, Mehebub; Thakur, Siddhartha Sankar; Banerjee, Sumit
ISBN 10: 6206161099 ISBN 13: 9786206161097
Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2023
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This book presents the research works related to the development of new algorithms for line outage identification using voltage phasor of PMU. Three new voltage phasor-based algorithms are introduced. The proposed three models are 1) Direct comparison of phasor angle measurement (DCPAM) model 2) Comparison of bus current injection (CBCI) model 3) Comparison of bus power injection mismatch (CBPIM) model. The proposed algorithms also consider the constraints like PMU outage issue and measurement noises which reflect the novelty and reliability of the methodology. The performance of the proposed methodologies are checked on different IEEE test systems in terms of accuracy.
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Título: Novel Voltage Phasor Based Algorithms for ...
Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing
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Novel Voltage Phasor Based Algorithms for Line Outage Identification
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Taschenbuch. Condición: Neu. Novel Voltage Phasor Based Algorithms for Line Outage Identification | Mehebub Alam (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2023 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786206161097 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu. Nº de ref. del artículo: 126992514
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Taschenbuch. Condición: Neu. Neuware -This book presents the research works related to the development of new algorithms for line outage identification using voltage phasor of PMU. Three new voltage phasor-based algorithms are introduced. The proposed three models are 1) Direct comparison of phasor angle measurement (DCPAM) model 2) Comparison of bus current injection (CBCI) model 3) Comparison of bus power injection mismatch (CBPIM) model. The proposed algorithms also consider the constraints like PMU outage issue and measurement noises which reflect the novelty and reliability of the methodology. The performance of the proposed methodologies are checked on different IEEE test systems in terms of accuracy.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 80 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9786206161097
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