Nondestructive testing standard assembly: ray detection method (Vol.1)(Chinese Edition)

QUAN GUO WU SUN JIAN CE BIAO ZHUN HUA JI SHU WEI YUAN HUI ZHONG GUO ZHI JIAN CHU BAN SHE DI SAN BIAN JI SHI

ISBN 10: 7506661810 ISBN 13: 9787506661812
Editorial: China Quality Press. Standards Press of China, 2011
Idioma: Chino
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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