Noise Temperature Measurements on Wafer (Classic Reprint)

Idioma: inglés

Editorial: Forgotten Books, 2024

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Print on Demand. This book presents the theoretical foundations and experimental methods developed at the National Institute of Standards and Technology for performing accurate noise temperature measurements on a wafer. The primary focus is on extending existing techniques developed for traditional noise measurements in waveguides and coaxial structures to the more challenging case of measurements on a wafer. The text includes a thorough theoretical discussion of the basic equations for power, traveling waves, and noise temperature derivation. It also considers relevant issues such as mismatch factors, available power ratios, and the use of pseudo-waves. Several experimental configurations are described, along with the results of tests designed to confirm the developed theories and methods and to determine the accuracy of on-wafer noise temperature measurements. These techniques and methods are essential for the development of on-wafer noise figure measurements and for establishing traceability for on-wafer noise measurements, both of which are of great significance for miniaturization and integration of electronics. This book is a reproduction of an important historical work, digitally reconstructed using state-of-the-art technology to preserve the original format. In rare cases, an imperfection in the original, such as a blemish or missing page, may be replicated in the book.…

N° de ref. del artículo 9781528226578_0

Título
Noise Temperature Measurements on Wafer (Classic Reprint)
Autor
James Randa
Editorial
Forgotten Books
Año de publicación
2024
Estado
New
Tipo de libro
print-on-demand item
Encuadernación
Paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
1528226577
ISBN 13
9781528226578
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Forgotten Books

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