Multi-Chip Module Test Strategies

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Okt 2012, 2012

1461377986 / 9781461377986

Serie: Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2). 168 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781461377986

Título
Multi-Chip Module Test Strategies
Autor
Yervant Zorian
Editorial
Springer US Okt 2012
Año de publicación
2012
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1461377986
ISBN 13
9781461377986
Peso del artículo
369 gramos
Dimensiones
260x195x10 mm
Serie
Libro 2 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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