Microstructural Characterisation Techniques (Indian Institute of Metals Series)

Sastry, Gunturi Venkata Sitarama

ISBN 10: 9811935114 ISBN 13: 9789811935114
Editorial: Springer, 2023
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This textbook is aimed at graduate and upper undergraduate students studying materials science and metallurgy. It comprehensively covers the topic of microstructural characterization and includes an emphasis on Fourier analysis and Fourier transformation, electron diffraction, electromagnetic waves and electron waves, lens parameters, transmission electron microscopy, optical microscopy and scanning electron microscopy. The author has included pedagogical features such as end-of-chapter exercises and worked examples with varying degrees of difficulty to augment learning and self-testing. This book will be a useful guide for upper undergraduate and graduate students along with researchers and professionals working in the field of microstructural characterization.

Acerca del autor: Prof. Gunturi Venkata Sitarama Sastry is former Professor, Department of Metallurgical Engineering and also Dean of Academic Affairs, IIT(BHU), Varanasi, India for a three year period. He began extensive use of transmission electron microscopy since his doctoral work on rapidly quenched aluminum alloys at IT-BHU, Varanasi. His research tools have been diverse microstructural characterization techniques with major emphasis on TEM. Most of his publications in high impact international Journals reflect this vast expertise in the field. Several of his students benefited from his courses on metallographic techniques taught at the Department of Metallurgical Engineering, IIT(BHU), Varanasi, India (formerly Institute of Technology, BHU). He also conducted many short-term courses on electron microscopy and associated techniques at various institutions and research laboratories. He headed the National Electron Microscopy Facility established at the Department for over five years and later worked for the augmentation of new facilities over there. The Electron Microscope Society of India recognized his contributions to the field by bestowing upon him the ‘Lifetime Achievement Award 2017’.

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Detalles bibliográficos

Título: Microstructural Characterisation Techniques ...
Editorial: Springer
Año de publicación: 2023
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Taschenbuch. Condición: Neu. Microstructural Characterisation Techniques | Gunturi Venkata Sitarama Sastry | Taschenbuch | Indian Institute of Metals Series | xix | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9789811935114 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Nº de ref. del artículo: 127476644

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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This textbook is aimed at graduate and upper undergraduate students studying materials science and metallurgy. It comprehensively covers the topic of microstructural characterization and includes an emphasis on Fourier analysis and Fourier transformation, electron diffraction, electromagnetic waves and electron waves, lens parameters, transmission electron microscopy, optical microscopy and scanning electron microscopy. The author has included pedagogical features such as end-of-chapter exercises and worked examples with varying degrees of difficulty to augment learning and self-testing. This book will be a useful guide for upper undergraduate and graduate students along with researchers and professionals working in the field of microstructural characterization. 264 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9789811935114

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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This textbook is aimed at graduate and upper undergraduate students studying materials science and metallurgy. It comprehensively covers the topic of microstructural characterization and includes an emphasis on Fourier analysis and Fourier transformation, electron diffraction, electromagnetic waves and electron waves, lens parameters, transmission electron microscopy, optical microscopy and scanning electron microscopy. The author has included pedagogical features such as end-of-chapter exercises and worked examples with varying degrees of difficulty to augment learning and self-testing. This book will be a useful guide for upper undergraduate and graduate students along with researchers and professionals working in the field of microstructural characterization.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 264 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9789811935114

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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This textbook is aimed at graduate and upper undergraduate students studying materials science and metallurgy. It comprehensively covers the topic of microstructural characterization and includes an emphasis on Fourier analysis and Fourier transformation, electron diffraction, electromagnetic waves and electron waves, lens parameters, transmission electron microscopy, optical microscopy and scanning electron microscopy. The author has included pedagogical features such as end-of-chapter exercises and worked examples with varying degrees of difficulty to augment learning and self-testing. This book will be a useful guide for upper undergraduate and graduate students along with researchers and professionals working in the field of microstructural characterization. Nº de ref. del artículo: 9789811935114

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