Methods of Measurement for Semiconductor Materials, Process Control, and

Idioma: inglés

Editorial: Forgotten Books, 2024

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Print on Demand. This book presents the results of the tenth reporting period in a series of studies focused on methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices. The Joint Program on Methods of Measurement for Semiconductor Materials, Process Control, and Devices was undertaken in 1968 to focus NBS efforts to enhance the performance, interchangeability, and reliability of discrete semiconductor devices and integrated circuits through improvements in methods of measurement. The program is supported by the National Bureau of Standards, the Defense Atomic Support Agency, the U.S. Navy Strategic Systems Project Office, the U.S. Navy Electronics Systems Command, the Atomic Energy Commission, and the National Aeronautics and Space Administration. Through this research, the author has made significant contributions to the development of new measurement methods and the improvement of existing ones in the field of semiconductor materials, process control, and devices. The book discusses the long term objectives of the program, as well as its accomplishments and plans for the immediate future. The research detailed in this text will be valuable to semiconductor researchers, manufacturers, and users, as well as to standards organizations and government agencies. This book is a reproduction of an important historical work, digitally reconstructed using state-of-the-art technology to preserve the original format. In rare cases, an imperfection in the original, such as a blemish or missing page, may be replicated in the book.…

N° de ref. del artículo 9780365779025_0

Título
Methods of Measurement for Semiconductor Materials, Process Control, and
Autor
W. Murray Bullis
Editorial
Forgotten Books
Año de publicación
2024
Estado
New
Tipo de libro
print-on-demand item
Encuadernación
Paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
0365779024
ISBN 13
9780365779025
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