Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices

Idioma: inglés

Editorial: Springer New York Okt 2014, 2014

1493901192 / 9781493901197

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices provides comprehensive coverage of reliability procedures and approaches for electron and photonic devices. These include lasers and high speed electronics used in cell phones, satellites, data transmission systems and displays. Lifetime predictions for compound semiconductor devices are notoriously inaccurate due to the absence of standard protocols. Manufacturers have relied on extrapolation back to room temperature of accelerated testing at elevated temperature. This technique fails for scaled, high current density devices. Device failure is driven by electric field or current mechanisms or low activation energy processes that are masked by other mechanisms at high temperature. The Handbook addresses reliability engineering for III-V devices, including materials and electrical characterization, reliability testing, and electronic characterization. These are used to develop new simulation technologies for device operation and reliability, which allow accurate prediction of reliability as well as the design specifically for improved reliability. The Handbook emphasizes physical mechanisms rather than an electrical definition of reliability. Accelerated aging is useful only if the failure mechanism is known. The Handbook also focuses on voltage and current acceleration stress mechanisms. 632 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781493901197

Título
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices
Autor
Stephen J. Pearton
Editorial
Springer New York Okt 2014
Año de publicación
2014
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1493901192
ISBN 13
9781493901197
Peso del artículo
943 gramos
Dimensiones
235x155x34 mm

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