Markov Random Field Modeling in Image Analysis (Advances in Computer Vision and Pattern Recognition)

Libro 5 de 86: Advances in Computer Vision and Pattern Recognition

Li, Stan Z.

ISBN 10: 1848002785 ISBN 13: 9781848002784
Editorial: Springer, 2009
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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