Markov Random Field Modeling in Image Analysis

Li, Stan Z. (Chinese Academy of Sciences)

ISBN 10: 1848002785 ISBN 13: 9781848002784

Editorial: Springer London Ltd, 2009

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Descripci�n

This detailed book presents a comprehensive study on the use of Markov Random Fields for solving computer vision problems. Various vision models are presented, and this third edition includes the most recent advances with new and expanded sections. Series: Advances in Computer Vision and Pattern Recognition. Num Pages: 384 pages, 111 black & white illustrations, 11 black & white tables, biography. BIC Classification: PBT; UYQV. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 22. Weight in Grams: 713. . 2009. 3rd ed. 2009. Hardback. . . . . N� de ref. del art�culo V9781848002784

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Sinopsis:

Markov random field (MRF) theory provides a basis for modeling contextual constraints in visual processing and interpretation. It enables us to develop optimal vision algorithms systematically when used with optimization principles. This book presents a comprehensive study on the use of MRFs for solving computer vision problems. Various vision models are presented in a unified framework, including image restoration and reconstruction, edge and region segmentation, texture, stereo and motion, object matching and recognition, and pose estimation. This third edition includes the most recent advances and has new and expanded sections on topics such as: Bayesian Network; Discriminative Random Fields; Strong Random Fields; Spatial-Temporal Models; Learning MRF for Classification. This book is an excellent reference for researchers working in computer vision, image processing, statistical pattern recognition and applications of MRFs. It is also suitable as a text for advanced courses in these areas.

Acerca del autor: Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teor�a y cr�tica del dise�o y han escrito m�s de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en �xitos de ventas. Tambi�n han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Dise�o del siglo XX, El dise�o industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Dise�o del siglo XXI.

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Detalles bibliogr�ficos

T�tulo: Markov Random Field Modeling in Image ...
Editorial: Springer London Ltd
A�o de publicaci�n: 2009
Encuadernaci�n: Encuadernaci�n de tapa dura
Condici�n: New
Edici�n: 3� Edici�n

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Markov Random Field Modeling in Image Analysis

Stan Z. Li

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Markov Random Field Modeling in Image Analysis (Advances in Pattern Recognition)

Stan Z. Li

Publicado por Springer, 2009

ISBN 10: 1848002785 ISBN 13: 9781848002784

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