Low Leakage SRAM Memory | Design of Low Power High Performance SRAMMemory using Gate Leakage ReductionTechnique

Debasis Mukherjee

ISBN 10: 6205517116 ISBN 13: 9786205517116
Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2022
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Low Leakage SRAM Memory | Design of Low Power High Performance SRAMMemory using Gate Leakage ReductionTechnique | Debasis Mukherjee | Taschenbuch | Englisch | 2022 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786205517116 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu. N° de ref. del artículo 126187511

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Sinopsis:

I present some techniques to decrease the gate and other leakage dissipation in Deep Sub-Micron SRAM memories. This book reviews detail SRAM operations. This book also reviews various transistor intrinsic leakage mechanisms, including weak inversion, drain-induced barrier lowering, gate-induced drain leakage, and gate oxide tunneling. Finally, the book explores different circuit techniques to reduce the leakage power consumption. The W/L ratios are calculated from the equations of current in transistors (Linear and Saturation mode) for smooth read-write operation of both 0 and 1. I use W1/W3 = 1.5 and W4/W6 = 1.5. I first designed conventional SRAM memory and observed leakage current in various technology. In 90 nm technology conventional SRAM shows a leakage current of 1.87nA at steady state. Data retention gated-ground cache (DGR-cache) method reduces the leakage current to 100pA. Drowsy cache method reduces the leakage current to 84pA.

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Detalles bibliográficos

Título: Low Leakage SRAM Memory | Design of Low ...
Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing
Año de publicación: 2022
Encuadernación: Taschenbuch
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Mukherjee, Debasis
Publicado por LAP Lambert Academic Publishing, 2022
ISBN 10: 6205517116 ISBN 13: 9786205517116
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Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - I present some techniques to decrease the gate and other leakage dissipation in Deep Sub-Micron SRAM memories. This book reviews detail SRAM operations. This book also reviews various transistor intrinsic leakage mechanisms, including weak inversion, drain-induced barrier lowering, gate-induced drain leakage, and gate oxide tunneling. Finally, the book explores different circuit techniques to reduce the leakage power consumption. The W/L ratios are calculated from the equations of current in transistors (Linear and Saturation mode) for smooth read-write operation of both 0 and 1. I use W1/W3 = 1.5 and W4/W6 = 1.5. I first designed conventional SRAM memory and observed leakage current in various technology. In 90 nm technology conventional SRAM shows a leakage current of 1.87nA at steady state. Data retention gated-ground cache (DGR-cache) method reduces the leakage current to 100pA. Drowsy cache method reduces the leakage current to 84pA. Nº de ref. del artículo: 9786205517116

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