LabVIEW Run Four Point Probe Device | Electrical Characterization of Semiconducting Thin Films made easy by Four Point Probe System controlled by LabVIEW

John Agumba (u. a.)

ISBN 10: 3659134821 ISBN 13: 9783659134821
Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2012
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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