Key Technologies for Semiconductor Metrology from a Patent Perspective(Chinese Edition)

Idioma: inglés

Editorial: Intellectual Property Publishing House, 2024

7513094969 / 9787513094962

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Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2024-09 Pages: 218 Publisher: Intellectual Property Publishing House This book innovatively conducts a dual-line linkage and dual-dimensional positioning analysis. focusing on the patent layout of key core technologies in the semiconductor industry and the layout of key applicants. The research content closely follows the current urgent needs of the industry and future development trends. providing strong support for existing scientific research and effec.

N° de ref. del artículo DT023227

Título
Key Technologies for Semiconductor Metrology from a Patent Perspective(Chinese Edition)
Autor
ZHI SHI CHAN QUAN JU ZHUAN LI JU ZHUAN LI SHEN CHA XIE ZUO JIANG SU ZHONG XIN
Editorial
Intellectual Property Publishing House
Año de publicación
2024
Estado
New
Encuadernación
paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
7513094969
ISBN 13
9787513094962

liu xing

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Especialidad

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