Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Feb 2011, 2011

1441952691 / 9781441952691

Serie: Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process. 408 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781441952691

Título
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Autor
Erik Larsson
Editorial
Springer US Feb 2011
Año de publicación
2011
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1441952691
ISBN 13
9781441952691
Peso del artículo
616 gramos
Dimensiones
235x155x23 mm
Serie
Libro 7 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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