Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 2012

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - As the complexity and the density of VLSI chips increase with shrinking design rules, the evaluation of long-term reliability of MOS VLSI circuits is becoming an important problem. The assessment and improvement of reliability on the circuit level should be based on both the failure mode analysis and the basic understanding of the physical failure mechanisms observed in integrated circuits. Hot-carrier induced degrada tion of MOS transistor characteristics is one of the primary mechanisms affecting the long-term reliability of MOS VLSI circuits. It is likely to become even more important in future generation chips, since the down ward scaling of transistor dimensions without proportional scaling of the operating voltage aggravates this problem. A thorough understanding of the physical mechanisms leading to hot-carrier related degradation of MOS transistors is a prerequisite for accurate circuit reliability evaluation. It is also being recognized that important reliability concerns other than the post-manufacture reliability qualification need to be addressed rigorously early in the design phase. The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits. If the predicted reliability does not satisfy the requirements, appropriate design modifications may be carried out to improve the resistance of the devices to degradation.…

N° de ref. del artículo 9781461364290

Título
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Autor
Yusuf Leblebici
Editorial
Springer
Año de publicación
2012
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1461364299
ISBN 13
9781461364290
Peso del artículo
365 gramos
Dimensiones
235x155x13 mm

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