Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 227)

Leblebici, Yusuf, Sung-Mo (Steve) Kang

ISBN 10: 1461364299 ISBN 13: 9781461364290
Editorial: Springer, 2012
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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