High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 2002

3540418180 / 9783540418184

Serie: Libro 60 de 233 - Springer Series in Materials Science

Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The characterisation of materials and material systems is an essential aspect of materials science. A few decades ago it became obvious that, because the properties of materials depend so critically on the microstructure of their components, this characterisation must be determined to the atomic level. This means that the position - as well as the nature - of individual atoms has to be determined at 'critical' regions close to defects such as dislocations, interfaces, and surfaces. The great impact of advanced transmission electron microscopy (TEM) techniques became apparent in the area of semiconducting materials, where the nature of internal interfaces between silicon and the corresponding silicides could be identified, and the results used to enhance the understanding of the properties of the compounds studied. At that time, advanced TEM techniques existed predominantly in the US. However, advanced TEM instrumentation was not available in the ma terials science and solid-state science communities in Germany. This gap was bridged by the late Peter Haasen who, after a visit to the US, initiated a Priority Programme on Microstructural Characterisation at the Volkswagen Foundation (Hannover). The programme was in effect from 1985 to 1997 and supported a wide range of research projects - from fundamental, trendy, innovative projects to projects in applied materials science.

N° de ref. del artículo 9783540418184

Título
High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials
Autor
Manfred Rühle
Editorial
Springer
Año de publicación
2002
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
3540418180
ISBN 13
9783540418184
Peso del artículo
936 gramos
Dimensiones
241x160x33 mm
Serie
Libro 60 de 233: Springer Series in Materials Science

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