High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications | The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology

Jon Orloff (u. a.)

ISBN 10: 030647350X ISBN 13: 9780306473500
Editorial: Humana, 2002
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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