Graphical Introduction - Semiconductor Device Defect and Failure Analysis Technology Lecture Reliability Technology Series Editorial Committee(Chinese Edition)

Idioma: inglés

Editorial: Mechanical Industry Press, 2024

7111749626 / 9787111749622

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Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2024-03 Pages: 168 Publisher: China Machinery Press This book is divided into 4 chapters. including an overview of semiconductor device defects and failure analysis technology. failure analysis technology of silicon integrated circuits (li). defects and failure analysis technology of power devices. and defects and failure analysis technology of compound semiconductor light-emitting devices. The author has opened columns in various places in the book to in.

N° de ref. del artículo DS054453

Detalles bibliográficos

Título
Graphical Introduction - Semiconductor Device Defect and Failure Analysis Technology Lecture Reliability Technology Series Editorial Committee(Chinese Edition)
Autor
KE KAO XING JI SHU CONG SHU JI WEI YUAN HUI ( RI )
Editorial
Mechanical Industry Press
Año de publicación
2024
Estado
New
Encuadernación
paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
7111749626
ISBN 13
9787111749622

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