A Fresh View on Impact Ionization Process: Multistage Scattering Model

Idioma: inglés

Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing Okt 2017, 2017

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book is presenting a new way of looking into the well-known impact ionization phenomena in reverse biased p-n junctions. It is intended as a text for postgraduate students in applied physics, electrical and electronics engineering and material science. It can exclusively serve as a reference for the scientists who are working in the area of semiconductor device simulation and modeling. The analytical approach of representing impact ionization phenomena based on multistage scattering model will be extremely helpful for the researchers working in the above-mentioned areas of research. The procedure of estimating the ionization rate of charge carriers in different semiconductors and monolayer grapheme nanoribbons via multistage scattering model has been presented in different chapters of this book. The influences of acoustic phonon scattering as well as externally applied steady magnetic field on the ionization rates has also been described in detail in subsequent chapters. 116 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9783659932595

Título
A Fresh View on Impact Ionization Process: Multistage Scattering Model
Autor
Aritra Acharyya
Editorial
LAP LAMBERT Academic Publishing Okt 2017
Año de publicación
2017
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
3659932590
ISBN 13
9783659932595
Peso del artículo
191 gramos
Dimensiones
220x150x7 mm

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