Foundations of Statistical Inference : Proceedings of the Shoresh Conference 2000

Haitovsky, Yoel (EDT); Lerche, Hans Rudolf (EDT); Ritov, Yaacov (EDT); Ritov, Yaacov

ISBN 10: 3790800473 ISBN 13: 9783790800470
Editorial: Physica, 2003
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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