Foundations of Nonlinear Optical Microscopy (Hardcover)

Idioma: inglés

Editorial: John Wiley & Sons Inc, New York, 2024

111981488X / 9781119814887

Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de AmericaGrand Eagle Retail

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 12 de octubre de 2005

Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 114,72

 Gastos de envío gratis 
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponible

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

Hardcover. Foundations of Nonlinear Optical Microscopy Concise yet comprehensive resource presenting the foundations of nonlinear optical microscopy Foundations of Nonlinear Optical Microscopy brings together all relevant principles of nonlinear optical (NLO) microscopy, presenting NLO microscopy within a consistent framework to allow for the origin of the signals and the interrelation between different NLO techniques to be understood. The text provides rigorous yet practical derivations, which amount to expressions that can be directly related to measured values of resolution, sensitivity, and imaging contrast. The book also addresses typical questions students ask, and answers them with clear explanations and examples. Readers of this book will develop a solid physical understanding of NLO microscopy, appreciate the advantages and limitations of each technique, and recognize the exciting possibilities that lie ahead. Foundations of Nonlinear Optical Microscopy covers sample topics such as: Light propagation, focusing of light, pulses of light, classical description of light-matter interactions, and quantum mechanical description of light-matter interactionsMolecular transitions, selection rules, signal radiation, and detection of lightMulti-photon fluorescence and pump-probe microscopyHarmonic generation, sum-frequency generation, and coherent Raman scattering Senior undergraduate and graduate students in chemistry, physics, and biomedical engineering, along with students of electrical engineering and instructors in both of these fields, can use the information within Foundations of Nonlinear Optical Microscopy and the included learning resources to gain a concise yet comprehensive overview of the subject. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.…

N° de ref. del artículo 9781119814887

Título
Foundations of Nonlinear Optical Microscopy (Hardcover)
Autor
Eric Olaf Potma
Editorial
John Wiley & Sons Inc, New York
Año de publicación
2024
Estado
new
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
111981488X
ISBN 13
9781119814887

Grand Eagle Retail

Bensenville, IL, Estados Unidos de America

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 12 de octubre de 2005

Tarifas de envío en Estados Unidos de America

ArtículoDe 6 a 14 días hábilesDe 6 a 16 días hábiles
Primer artículoEUR 0,00EUR 0,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Información empresarial del vendedor

APOLLO ONLINE CORP.

605 Geddes Street
Wilmington, DE Estados Unidos de America 19805