Field Emission Scanning Electron Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Springer Okt 2017, 2017

9811044325 / 9789811044328

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron microscopes (SEM/STEM), simulation and post-processing techniques at high spatial resolution in the fields of nanomaterials, metallurgy, geology, and more. These microscopes now offer improved performance at very low landing voltage and high -beam probe current stability, combined with a routine transmission mode capability that can compete with the (scanning-) transmission electron microscopes (STEM/-TEM) historically run at higher beam accelerating voltageSpringer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 152 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9789811044328

Título
Field Emission Scanning Electron Microscopy
Autor
Nicolas Brodusch
Editorial
Springer, Springer Okt 2017
Año de publicación
2017
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
9811044325
ISBN 13
9789811044328
Peso del artículo
242 gramos
Dimensiones
235x155x9 mm

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Emtmannsberg, BAYE, Alemania

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