Fatigue Testing and Analysis: Theory and Practice

Yung-Li Lee, Jwo Pan, Richard Hathaway, Mark Barkey

ISBN 10: 0750677198 ISBN 13: 9780750677196
Editorial: Butterworth-Heinemann 2004-08-18, 2004
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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