Ellipsometry in the Measurement of Surfaces and Thin Films: Symposium Proceedings, Washington 1963; Symposium Held September 5-6, 1963, at the National Bureau of Standards, Washington, D. C (Classic Reprint)

E. Passaglia

ISBN 10: 0266786936 ISBN 13: 9780266786931
Editorial: Forgotten Books, 2018
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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