Ellipsometry

Idioma: inglés

Editorial: John Wiley & Sons, 1999

0471181722 / 9780471181729

Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

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While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic.

N° de ref. del artículo 385635934

Título
Ellipsometry
Autor
HG Tompkins
Editorial
John Wiley & Sons
Año de publicación
1999
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
0471181722
ISBN 13
9780471181729

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