Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology

S. J. B. Reed

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Idioma: inglés

Editorial: Cambridge University Press, GB, 2010

052114230X / 9780521142304

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Descripción del artículo del vendedor

Originally published in 2005, this book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint. Topics discussed include: principles of electron-target interactions, electron beam instrumentation, X-ray spectrometry, general principles of SEM image formation, production of X-ray 'maps' showing elemental distributions, procedures for qualitative and quantitative X-ray analysis (both energy-dispersive and wavelength-dispersive), the use of both 'true' electron microprobes and SEMs fitted with X-ray spectrometers, and practical matters such as sample preparation and treatment of results. Throughout, there is an emphasis on geological aspects not mentioned in similar books aimed at a more general readership. The book avoids unnecessary technical detail in order to be easily accessible, and forms a comprehensive text on EMPA and SEM for geological postgraduate and postdoctoral researchers, as well as those working in industrial laboratories. …

N° de ref. del artículo LU-9780521142304

Título
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Autor
S. J. B. Reed
Editorial
Cambridge University Press, GB
Año de publicación
2010
Estado
New
Encuadernación
Paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
052114230X
ISBN 13
9780521142304
Edición
2ª Edición
Peso del artículo
340 gramos

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