Electron Crystallography for Materials Research and Quantitive Characterization of Nanostructured Materials: Volume 1184 (Paperback)

Peter Moeck

ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Editorial: Cambridge University Press, Cambridge, 2014
Nuevos Paperback

Librería: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australia Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Vendedor de AbeBooks desde 22 de junio de 2007

Este artículo en concreto ya no está disponible.

Descripción

Descripción:

Paperback. This book combines the proceedings of Symposium GG, Electron Crystallography for Materials Research, and Symposium HH, Quantitative Characterization of Nanostructured Materials, both from the 2009 MRS Spring Meeting in San Francisco. Papers from Symposium GG focus on the fundamentals and recent progress in electron crystallography and associated strategies for structural fingerprinting of nanocrystals. Some consensus was reached regarding precession electron diffraction and electron diffraction tomography as instrumental breakthroughs leading to ab initio determinations of unknowns with high structural complexity. Some of these unknowns may only exist as nanocrystals. For Symposium HH, experts in a wide variety of probing techniques come together in an effort to find optimal, and often combined, approaches for determining atomic structure at the nanoscale - the problem at the core of nanotechnology. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. This item is printed on demand. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability. N° de ref. del artículo 9781107408203

Denunciar este artículo

Sinopsis:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Reseña del editor: This book combines the proceedings of Symposium GG, Electron Crystallography for Materials Research, and Symposium HH, Quantitative Characterization of Nanostructured Materials, both from the 2009 MRS Spring Meeting in San Francisco. Papers from Symposium GG focus on the fundamentals and recent progress in electron crystallography and associated strategies for structural fingerprinting of nanocrystals. Some consensus was reached regarding precession electron diffraction and electron diffraction tomography as instrumental breakthroughs leading to ab initio determinations of unknowns with high structural complexity. Some of these unknowns may only exist as nanocrystals. For Symposium HH, experts in a wide variety of probing techniques come together in an effort to find optimal, and often combined, approaches for determining atomic structure at the nanoscale - the problem at the core of nanotechnology.

"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.

Detalles bibliográficos

Título: Electron Crystallography for Materials ...
Editorial: Cambridge University Press, Cambridge
Año de publicación: 2014
Encuadernación: Paperback
Condición: new

Los mejores resultados en AbeBooks

Imagen de archivo

Moeck, Peter
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo PF

Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

PF. Condición: New. Nº de ref. del artículo: 6666-IUK-9781107408203

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 34,59
Envío por EUR 17,94
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 10 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Edited by Peter Moeck , Sven Hovmà ller , Stavros Nicolopoulos , Sergei Rouvimov , Valeri Petkov , Milen Gateshki , Phil Fraundorf
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo Paperback
Impresión bajo demanda

Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Paperback. Condición: Brand New. 228 pages. 8.90x6.00x0.60 inches. In Stock. This item is printed on demand. Nº de ref. del artículo: __1107408202

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 35,41
Envío por EUR 11,58
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo Tapa blanda

Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Condición: New. In. Nº de ref. del artículo: ria9781107408203_new

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 36,89
Envío por EUR 13,88
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Peter Moeck
Publicado por Cambridge University Press, GB, 2014
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo Paperback

Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Paperback. Condición: New. This book combines the proceedings of Symposium GG, Electron Crystallography for Materials Research, and Symposium HH, Quantitative Characterization of Nanostructured Materials, both from the 2009 MRS Spring Meeting in San Francisco. Papers from Symposium GG focus on the fundamentals and recent progress in electron crystallography and associated strategies for structural fingerprinting of nanocrystals. Some consensus was reached regarding precession electron diffraction and electron diffraction tomography as instrumental breakthroughs leading to ab initio determinations of unknowns with high structural complexity. Some of these unknowns may only exist as nanocrystals. For Symposium HH, experts in a wide variety of probing techniques come together in an effort to find optimal, and often combined, approaches for determining atomic structure at the nanoscale - the problem at the core of nanotechnology. Nº de ref. del artículo: LU-9781107408203

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 38,33
Envío por EUR 75,29
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Peter Moeck
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo Paperback / softback
Impresión bajo demanda

Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Paperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days. Nº de ref. del artículo: C9781107408203

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 41,20
Envío por EUR 16,04
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Peter Moeck
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo Paperback
Impresión bajo demanda

Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Paperback. Condición: new. Paperback. This book combines the proceedings of Symposium GG, Electron Crystallography for Materials Research, and Symposium HH, Quantitative Characterization of Nanostructured Materials, both from the 2009 MRS Spring Meeting in San Francisco. Papers from Symposium GG focus on the fundamentals and recent progress in electron crystallography and associated strategies for structural fingerprinting of nanocrystals. Some consensus was reached regarding precession electron diffraction and electron diffraction tomography as instrumental breakthroughs leading to ab initio determinations of unknowns with high structural complexity. Some of these unknowns may only exist as nanocrystals. For Symposium HH, experts in a wide variety of probing techniques come together in an effort to find optimal, and often combined, approaches for determining atomic structure at the nanoscale - the problem at the core of nanotechnology. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Nº de ref. del artículo: 9781107408203

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 41,85
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Peter Moeck
Publicado por Cambridge University Press, GB, 2014
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo Paperback

Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Paperback. Condición: New. This book combines the proceedings of Symposium GG, Electron Crystallography for Materials Research, and Symposium HH, Quantitative Characterization of Nanostructured Materials, both from the 2009 MRS Spring Meeting in San Francisco. Papers from Symposium GG focus on the fundamentals and recent progress in electron crystallography and associated strategies for structural fingerprinting of nanocrystals. Some consensus was reached regarding precession electron diffraction and electron diffraction tomography as instrumental breakthroughs leading to ab initio determinations of unknowns with high structural complexity. Some of these unknowns may only exist as nanocrystals. For Symposium HH, experts in a wide variety of probing techniques come together in an effort to find optimal, and often combined, approaches for determining atomic structure at the nanoscale - the problem at the core of nanotechnology. Nº de ref. del artículo: LU-9781107408203

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 41,85
Gastos de envío gratis
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo Tapa blanda

Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Condición: New. Nº de ref. del artículo: I-9781107408203

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 41,97
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito

Imagen del vendedor

Moeck, Peter
Publicado por Cambridge University Press, 2012
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo Tapa blanda
Impresión bajo demanda

Librería: moluna, Greven, Alemania

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.KlappentextThe MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research. Nº de ref. del artículo: 447217828

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 42,05
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Peter Moeck
ISBN 10: 1107408202 ISBN 13: 9781107408203
Nuevo Paperback
Impresión bajo demanda

Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Paperback. Condición: new. Paperback. This book combines the proceedings of Symposium GG, Electron Crystallography for Materials Research, and Symposium HH, Quantitative Characterization of Nanostructured Materials, both from the 2009 MRS Spring Meeting in San Francisco. Papers from Symposium GG focus on the fundamentals and recent progress in electron crystallography and associated strategies for structural fingerprinting of nanocrystals. Some consensus was reached regarding precession electron diffraction and electron diffraction tomography as instrumental breakthroughs leading to ab initio determinations of unknowns with high structural complexity. Some of these unknowns may only exist as nanocrystals. For Symposium HH, experts in a wide variety of probing techniques come together in an effort to find optimal, and often combined, approaches for determining atomic structure at the nanoscale - the problem at the core of nanotechnology. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. Nº de ref. del artículo: 9781107408203

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 44,72
Envío por EUR 42,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito

Existen otras 6 copia(s) de este libro

Ver todos los resultados de su búsqueda