Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer US, Springer New York Nov 2014, 2014

1461498317 / 9781461498315

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits: Techniques for Low Emission and Susceptibility focuseson the electromagnetic compatibility of integrated circuits. The basic concepts, theory, and an extensive historical review of integrated circuit emission and susceptibility are provided. Standardized measurement methods are detailed through various case studies. EMC models for the core, I/Os, supply network, and packaging are described with applications to conducted switching noise, signal integrity, near-field and radiated noise. Case studies from different companies and research laboratories are presented with in-depth descriptions of the ICs, test set-ups, and comparisons between measurements and simulations. Specific guidelines for achieving low emission and susceptibility derived from the experience of EMC experts are presented.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 488 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781461498315

Título
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
Autor
Sonia Ben Dhia
Editorial
Springer US, Springer New York Nov 2014
Año de publicación
2014
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1461498317
ISBN 13
9781461498315
Peso del artículo
733 gramos
Dimensiones
235x155x27 mm

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Emtmannsberg, BAYE, Alemania

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