ESD Protection Challenges

Idioma: inglés

Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing Feb 2010, 2010

3838336429 / 9783838336428

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Two main Electro Static Discharge (ESD) challenges lie ahead. Firstly, FinFET technology has only a limited available silicon volume to dissipate the ESD current. Secondly, as CMOS technology downscaling allows Radio Frequency (RF) applications to operate at higher RF frequencies and wider bandwidths, adequate ESD protection needs to be developed without compromising RF performance. This book, therefore, provides an in-depth analysis on ESD protection structures and concepts, implemented in silicon on insulator FinFET technology. Complex dependencies are found for the different ESD performance parameters on both device geometry and process technology. Further, in this book, novel RF-ESD protection solutions are proposed for both narrow- and wideband RF CMOS circuits in most advanced CMOS technologies, with a special emphasis towards CDM protection. This analysis should provide fundamental understanding of the ESD challenges for FinFET technology and RF CMOS circuits, and should be especially useful to everyone working with ESD in the field of product development, support, research or education.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 272 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9783838336428

Título
ESD Protection Challenges
Autor
Steven Thijs
Editorial
LAP LAMBERT Academic Publishing Feb 2010
Año de publicación
2010
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
3838336429
ISBN 13
9783838336428
Peso del artículo
423 gramos
Dimensiones
220x150x17 mm

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