Digital Systems Testing and Testable Design

Abramovici, Miron, A. Breuer Melvin und D. Friedman Arthur:

ISBN 10: 0780310624 ISBN 13: 9780780310629

Editorial: Wiley-IEEE Press, 1994

Idioma: Ingl�s

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Descripci�n

672 Seiten; 9780780310629.2 Gewicht in Gramm: 3.

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Detalles bibliogr�ficos

T�tulo

Digital Systems Testing and Testable Design

Editor

Wiley-IEEE Press

Fecha de publicaci�n

1994

Idioma

Ingl�s

ISBN 10

0780310624

ISBN 13

9780780310629

Encuadernaci�n

hardcover

Estado

Sehr gut

Peso

3 gramos

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Sinopsis

This updated printing of the leading text and reference in digital systems testing and testable design provides comprehensive, state-of-the-art coverage of the field. Included are extensive discussions of test generation, fault modeling for classic and new technologies, simulation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis. Complete with numerous problems, this book is a must-have for test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers, and advanced engineering students will find this book an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.

Acerca del autor

Miron Abramovici is a Distinguished Member of the Technical Staff at AT&T Bell Laboratories in Murray Hill, and an Adjunct Professor of Computer Engineering at the Illinois Institute of Technology in Chicago.

Melvin A. Breuer is a Professor of Electrical Engineering and Computer Science at the University of Southern California in Los Angeles.

Arthur D. Friedman is a Professor in the Department of Electrical Engineering and Computer Science at George Washington University.
All three authors are Fellows of the IEEE and have contributed extensively to the fields discussed in this book.

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