Development History of IEC and IEEE High Voltage and High Current Test Standards(Chinese Edition)

GUO JI DA DIAN WANG WEI YUAN HUI D1.35 GONG ZUO ZU . FAN JIAN BIN . LI PENG . YIN YU DENG YI

ISBN 10: 7519836649 ISBN 13: 9787519836641

Editorial: China Electric Power Press, 2019

Idioma: Ingl�s

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Descripci�n

Paperback.Pub Date:2019-09 Pages:64 Language:Chinese Publisher:China Electric Power Press The authors have tried to clarify the difficulties in interpreting some standard clauses in the Development History of IEC\IEEE High Voltage and High Current Test Standards as much as possible. The revision of these clauses in the future can make the high voltage test standards clearer and more user-friendly. The Development History of IEC\IEEE High Voltage and High Current Test Standards first introduce.

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T�tulo

Development History of IEC and IEEE High Voltage and High Current Test Standards(Chinese Edition)

Editor

China Electric Power Press

Fecha de publicaci�n

2019

Idioma

Ingl�s

ISBN 10

7519836649

ISBN 13

9787519836641

Encuadernaci�n

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Language:Chinese.paperback.Pub Date:2019-09.publisher:China Electric Power Press.description:Paperback.Pub Date:2019-09 Pages:64 Language:Chinese Publisher:China Electric Power Press The authors have tried to clarify the difficulties in interpreting some standard clauses in the Development History of IECIEEE High Voltage and High Current Te

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