Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 2021

3030692086 / 9783030692087

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Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.

N° de ref. del artículo 37408851/3

Título
Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques
Autor
Huhn, Sebastian
Editorial
Springer
Año de publicación
2021
Estado
Gut
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
3030692086
ISBN 13
9783030692087
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