Design for Manufacturability and Statistical Design
Idioma: inglés
Editorial: Springer US Nov 2010, 2010
- Tapa blanda
- Nuevo
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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Design for Manufacturability and Statistical Design: A Comprehensive Approach presents a comprehensive overview of methods that need to be mastered in understanding state-of-the-art design for manufacturability and statistical design methodologies. Broadly, design for manufacturability is a set of techniques that attempt to fix the systematic sources of variability, such as those due to photolithography and CMP. Statistical design, on the other hand, deals with the random sources of variability. Both paradigms operate within a common framework, and their joint comprehensive treatment is one of the objectives of this book and an important differentation. Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach provides a thorough treatment of the causes of variability, methods for statistical data characterization, and techniques for modeling, analysis, and optimization of integrated circuits to improve yield. The objective of the constructive approach developed in this book is to formulate a consistent set of methods and principles necessary for rigorous statistical design and design for manufacturability from device physics to large-scale circuit optimization. The segments of the book are devoted, respectively, to understanding the causes of variability; design of test structures for variability characterization; statistically rigorous data analysis;techniques of design for manufacturability in lithography and in chemical mechanical polishing;statistical simulation, analysis, and optimization techniques for improving parametric yield.Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach presents an overview of the methods that need to be mastered for state-of-the-art design for manufacturability and statistical design methodologies. It is an important reference for practitioners and students in the field of computer-aided design of integrated circuits. 332 pp. Englisch.…
N° de ref. del artículo 9781441940445
- Título
- Design for Manufacturability and Statistical Design
- Autor
- Michael Orshansky
- Editorial
- Springer US Nov 2010
- Año de publicación
- 2010
- Estado
- Neu
- Encuadernación
- Taschenbuch
- Idioma
- inglés
- ISBN 10
- 1441940448
- ISBN 13
- 9781441940445
- Peso del artículo
- 505 gramos
- Dimensiones
- 235x155x19 mm
- Serie
- Libro 10 de 34: Integrated Circuits and Systems
Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach provides a thorough treatment of the causes of variability, methods for statistical data characterization, and techniques for modeling, analysis, and optimization of integrated circuits to improve yield. The objective of the constructive approach developed in this book is to formulate a consistent set of methods and principles necessary for rigorous statistical design and design for manufacturability from device physics to large-scale circuit optimization. The segments of the book are devoted, respectively, to
- understanding the causes of variability;
- design of test structures for variability characterization;
- statistically rigorous data analysis;
- techniques of design for manufacturability in lithography and in chemical mechanical polishing;
- statistical simulation, analysis, and optimization techniques for improving parametric yield.
Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach presents an overview of the methods that need to be mastered for state-of-the-art design for manufacturability and statistical design methodologies. It is an important reference for practitioners and students in the field of computer-aided design of integrated circuits.
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De la contraportada
Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach provides a thorough treatment of the causes of variability, methods for statistical data characterization, and techniques for modeling, analysis, and optimization of integrated circuits to improve yield. The objective of the constructive approach developed in this book is to formulate a consistent set of methods and principles necessary for rigorous statistical design and design for manufacturability from device physics to large-scale circuit optimization. The segments of the book are devoted, respectively, to
- understanding the causes of variability;
- design of test structures for variability characterization;
- statistically rigorous data analysis;
- techniques of design for manufacturability in lithography and in chemical mechanical polishing;
- statistical simulation, analysis, and optimization techniques for improving parametric yield.
Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach presents an overview of the methods that need to be mastered for state-of-the-art design for manufacturability and statistical design methodologies. It is an important reference for practitioners and students in the field of computer-aided design of integrated circuits.
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